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(一）漫反射基本原理

当光照射到疏松的固态样品的表面时，除有一部分被样品表面立即反射出来(称为镜反射光）之外，其余的入射光在样品表面产生漫射，或在样品微粒之间辗转反射逐渐衰减，或为穿入内层后再折回的散射。这些接触样品微粒表面后被漫反射或散射出来的光具有吸收一衰减特性，这就是漫反射产生光谱的基本原因。漫反射装置的作用就是强度地把这些漫射、散射出来的光能收聚起来送入检测器，使得到具有良好信噪比的光谱信号。

(二）漫反射的测量

由于光线照射到固体样品上时，镜面反射和漫反射是同时存在的，将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效的消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和的现象。稀释基质应在研究波数范围内对IR光无吸收且有较高反射能力，常用的稀释基质有KC1和KBr 等。卤化钾与样品的比例一般在20:1至10:1之间。测试时将卤化钾与样品混合装入样品槽即可测得混合粉末的漫反射谱，将该谱与卤化钾粉末的漫反射相比就得到样品的漫反射谱。

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反射测量参考白板

WS-1标准漫反射参考白板是用PTFE制成的。PTFE是一种具有可用作反射实验标准参照物的理想朗伯表面的漫反射塑性白胶。PTFE可以被地加工成需要的形状，做成无定形结构，参考板对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。

WS-1具有非常好的长期使用稳定性，包括用紫外线照射的条件下。同时，它不易被水沾湿，化学性质也很稳定。

WS-1-SL标准Spectralon反射参考白板

WS-1-SL是Labsphere公司生产的标准漫反射白板，采用Spectralon反射材料制作。Spectralon不怕水浸而且热稳定性良好，可以在高达350度的条件下使用。稳定的材料保证客户可以获得准确的可重复的数据。相对于PTFE材料的白板，WS-1-SL的表面如果被污染或者有划痕，您可以将它打磨后继续使用。

WS-3-GEM白色参考板

WS-3-GEM由漫反射材料PTFE制成，其不锈钢容器内部被做成凹面形，这使得光线照射时，WS-3-GEM成为一个积分球。WS-3-GEM可用于钻石或其他宝石的色度测量。WS-3-GEM对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。与WS-1类似，WS-3-GEM的反射材料不易被水沾湿，化学性质也非常的稳定。

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漫反射谱有两种表示方式，一种用漫反射率(漫反射光与入射光强度之比)来表示，另一种用Kubelka-Munk函数f(Ro)来表示。

漫反射用于定量分析时，与样品浓度C呈线性关系的不是峰高，车载激光雷达测试白板，是根据Kubelka-Munk函数得出的f(R)。

漫反射率和样品浓度的关系可由Kubelka-Munk方程来描述:

f(Roo)=(1- Ro)2/2R co=K/S

上式中f(Ro)称为K-M函数，汕头测试白板，Roo代表样品层厚时的漫反射率（实际上几个毫米厚度就可以了），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数〈与样品粒度有关，粒度一定时为常数）。由于K与粉末样品浓度C成正比，由此可知，f(Rco)与C成正比，这是漫反射定量分析的依据。

需注意

(1）在高浓度区域，K-M方程不适用，一般需将样品稀释到无吸收的卤化钾基质中进行测量。样品浓度要在10%以下。

(2）当用卤化钾做参比样品时，Rco可用Roo(样品〉和Ro（参比》之比取代来计算，即Ro=Ro(样品）/Roo(参比）。

(3）散射系数S与样品密度和粒子尺寸有关。当比较一系列化合物的漫反射谱时，粒子尺寸和样品密度也应保持一致。

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